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TECLOCK測微厚薄計 SM-114 日製(量測布料厚度)
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TECLOCK測微厚薄計 SM-114 日製(量測布料厚度)

商品描述:

商品屬性

量範圍:10mm
最小刻度:0.01mm
測定喉深:120mm
測定壓力:2.5N
上測量頭:10(平)mm
下測量頭:10(平)mm
 
 

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