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TECLOCK測微厚薄計 SM-114 日製(量測布料厚度)
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TECLOCK測微厚薄計 SM-114 日製(量測布料厚度)

商品描述：

商品屬性

量範圍：10mm
最小刻度：0.01mm
測定喉深：120mm
測定壓力：2.5N
上測量頭：10(平)mm
下測量頭：10(平)mm
 
 

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